晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置一般來說會使用半導體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而研發(fā)本設(shè)備的目的，正是為了使此類檢查變得更加簡易化。將高亮光照射在對象物品（半導體晶圓，玻璃屏，光學部件，透鏡等）上，通過所產(chǎn)生的丁達爾現(xiàn)象，可確認劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等。

晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置

晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置

產(chǎn)品介紹：

當高強度光照射到物體上時（*1） ，會發(fā)生廷德爾現(xiàn)象，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。

*1：半導體晶圓、掩膜玻璃、硬盤、液晶面板、透鏡等！

UIH-1C型規(guī)格

京都玉崎 * INTECS英特斯現(xiàn)貨超高亮照明裝置UIH-1C

UIH-2D型規(guī)格

*1 為了保護燈泡，即使在主電源開關(guān)關(guān)閉的情況下
　　　 ，仍可通過風扇維持冷卻直至燈室內(nèi)溫度降至約 40℃ 以下的功能。

UIH-3D型規(guī)格